Handmätdon
Mätbänkar
Mätspetsar
Ytjämnhetsmätare
Rundhetsmätare
Höjdmätare
Kuggmätare & Splinesmätare
Skiktmätare
Visa allt inom SkiktmätareGodstjockleksmätare
Visa allt inom GodstjockleksmätareLasermätare
Visa allt inom LasermätareKataloger
Visa allt inom KatalogerSkjutmått
Mikrometer
Mätklocka
Vippindikator
Skänkelmätklocka
Trepunktsmikrometer
Hålindikator
Fasta mätdon
Övrigt
Nivellering
Vinkelgivare och Vattenpass
Induktiv givare
Visa allt inom Induktiv givareVisningsinstrument
Visa allt inom VisningsinstrumentPlanskiva
Visa allt inom PlanskivaMätbänk
Visa allt inom MätbänkMätspetsar till mätmaskiner
Visa allt inom Mätspetsar till mätmaskinerMätspetsar till mätklockor
Visa allt inom Mätspetsar till mätklockorMätspetsar till mikrometrar
Visa allt inom Mätspetsar till mikrometrarMätspetsar till vippidikatorer
Visa allt inom Mätspetsar till vippidikatorerMätspetsar till höjdmätare
Visa allt inom Mätspetsar till höjdmätarePortabel ytjämnhetsmätare
Visa allt inom Portabel ytjämnhetsmätareYtjämnhetsmätare och kontur
Visa allt inom Ytjämnhetsmätare och konturBeröringsfri mätning
Visa allt inom Beröringsfri mätningRundhetsinstrument
Visa allt inom RundhetsinstrumentBeröringsfri rundhetsmätare
Visa allt inom Beröringsfri rundhetsmätareHöjdmått
Visa allt inom HöjdmåttTillbehör
Visa allt inom TillbehörKulmått
Visa allt inom KulmåttDubbelflank
Visa allt inom DubbelflankTolkar och mastrar
Visa allt inom Tolkar och mastrarBeröringsfri mätning – LUPHOScan SL
Beröringsfri mätning av yta, form och 3D-profiler på optik så som linser.
Världens snabbaste och noggrannaste system för beröringsfri mätning av små linser. LUPHOScan SL från Taylor Hobson Ametek är idealisk för mätning av hög volymproduktion av små mobil linser.
Den patenterade tekniken i LUPHOScan möjliggör förmågan att mäta geometriska linsfunktioner som krävs vi tillverkning av linser.
Ultra high, repeatable accuracy
≤ 30 nm PV (3s)
Best available stability
Power variation < ± 15 nm (3s),
PV variation < ± 1.5 nm (3s)
Analyse geometric features
Such as interlocks and edge diameters in relation to each other or the optical surface
Thin transparent substrates
Down to 100 μm thickness
Fast measurement speeds for true 3D
< 120 sec. - Optical surface and geometric features
< 60 sec. - Optical surface only
